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高頻率分辨率選件的太赫茲波時域光譜光電取樣分析系統(tǒng)新登場!

時間:2022-07-28      點擊次數(shù):2101

面向Beyond5G/ADAS應用場景評估分析頻率特性的解決方案

 

 

 

 

       這是Advantest太赫茲光學采樣分析系統(tǒng)的一個選項。它適用于評估無線電波吸收器、印刷電路板材料、聚合物材料等的頻率特性,這些材料是下一代無線通信技術(后5G/6G)和用于ADAS(高級駕駛員輔助系統(tǒng))的毫米波雷達所*的??稍u估毫米波至太赫茲波段,各種材料的傳輸特性(透射率、反射率)和復介電常數(shù)。


     通常在評估各種材料在毫米波和高頻段區(qū)域的傳輸特性(透射率、反射率)和復介電常數(shù)的時候我們會用到矢量網絡分析儀 (VNA)* ,而如今隨著5G技術的廣泛應用和衍生技術的迭代更新,對于在更寬的帶寬上評估這些特性的需求變得更為迫切。同時在使用VNA評估這些特性時需要設置和校準每個頻段,故此帶來的時間和精力消耗引發(fā)了一系列的問題。

   

      TAS7400TS太赫茲光學采樣分析系統(tǒng)新增高分辨率配件。新配件為無線電波吸收材料和基材的高頻特性評估提供了開創(chuàng)性的測量方法,這對于后5G / 6G的下一代通信技術和ADAS(高級駕駛輔助系統(tǒng))中使用的毫米波雷達技術而言是很重。

 

   在新配件的加持下,用戶可以通過使用緊湊的光學采樣系統(tǒng)獲得的更具優(yōu)勢的測量環(huán)境進行測量,從而節(jié)省成本和空間。此外,TAS7400TS的掃描測量配件可以分析表面頻率特性,而此次新配件的頻率分辨率和掃描速度是以前產品的5倍,使其成為了評估新材料高頻特性的*佳解決方案。

      

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              系統(tǒng)配置建議(30 GHz 至2 THz)

        

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可利用緊湊型設備來測定從毫米波到太赫茲波的電磁特性

 

● 實現(xiàn)380MHz高頻率分辨率

● 不需要VNA那樣切換掃頻波段,一次實現(xiàn)寬帶寬 (30GHz~2THz) 的測定

● 40ms的掃描速度對寬帶寬進行掃描

● 系統(tǒng)配有透射/反射測量模塊,更容易校準設備

● 通過遠程編程功能就能實現(xiàn)二維掃描測量

 

*

矢量網絡分析儀(VNA)是通過測量網絡各個端口對頻率/功率掃描測試信號的幅度與相位響應,從而測量器件網絡特性的儀器,它結合了頻譜分析,信號發(fā)生以及信號分離等各項技術。應用于芯片測試,微波器件,材料科學,電子通信等基礎性行業(yè)和領域。


 

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